電子電工產(chǎn)品低溫測試要求

一、工作空間是高氣流速度或是低氣流速度的確定：

在測量和試驗(yàn)的標(biāo)準(zhǔn)環(huán)境條件下,以及氣流速度＜0.2m/s，按照待試驗(yàn)的低溫條件下的規(guī)定給試驗(yàn)樣品通電或加電氣負(fù)載。

當(dāng)試驗(yàn)樣品的溫度達(dá)到穩(wěn)定，應(yīng)使用合適的監(jiān)測裝置測量試驗(yàn)樣品上或其周圍若干個(gè)有代表性的位置的溫度。之后，每一個(gè)位置的溫升應(yīng)予以記錄。

開啟試驗(yàn)箱的通風(fēng)裝置使空氣循環(huán)，當(dāng)溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)，重新測量上述位置處的溫度。如果此次測得的溫度與上次無空氣流動(dòng)時(shí)測得的溫度相差超過5K（或相關(guān)規(guī)范規(guī)定的其他值），應(yīng)在檢測報(bào)告中記錄這些溫度值，并且認(rèn)為該試驗(yàn)箱具有高氣流速度循環(huán)。然后給試驗(yàn)樣品斷電，并去掉任何負(fù)載條件。

二、非散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)：

在溫度漸變試驗(yàn)Ab中，試驗(yàn)樣品放入處于試驗(yàn)室溫度的試驗(yàn)箱中，然后慢慢降低試驗(yàn)箱中溫度，防止由于溫度改變而對試驗(yàn)樣品產(chǎn)生有害作用。建議采用高氣流速度循環(huán)，因?yàn)檫@樣可以減少達(dá)到溫度穩(wěn)定所需要的時(shí)間。

三、散熱試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)：

試驗(yàn)Ad和試驗(yàn)Ac描述了散熱試驗(yàn)樣品在低氣流速度循環(huán)下的試驗(yàn)程序。這允許試驗(yàn)樣品的局部發(fā)熱點(diǎn)在其內(nèi)部擴(kuò)展的情況，類似于安裝后的產(chǎn)品在應(yīng)用中發(fā)生的情況。

四、溫度監(jiān)控：

    應(yīng)使用溫度傳感器來測量試驗(yàn)箱里的空氣溫度，溫度傳感器的位置離試驗(yàn)樣品的距離確保其受熱擴(kuò)散的影響可忽略不計(jì)。應(yīng)適當(dāng)注意以避免熱輻射影響這些測量。